L’IMEKO TC6 organizza la seconda Conferenza Internazionale “Metrologia e Digitalizzazione”, che si terrà dal 3 al 5 settembre 2025 presso l’Università degli Studi del Sannio, a Benevento, con il patrocinio di EUROLAB ed ASSOTIC.
La conferenza tratterà tematiche relative alla trasformazione digitale nella riferibilità metrologica, alla metrologia delle reti di sensori, alla trasformazione digitale nella metrologia legale, alla digitalizzazione e al Sistema Internazionale delle Unità di Misura.
Per tutte le informazioni sul programma e le modalità di partecipazione, consultare la locandina dell’evento disponibile in allegato e visitare la pagina web www.m4dconf.org.
Di seguito i principali argomenti della conferenza:
- Rappresentazione digitale e utilizzo delle informazioni metrologiche
- rappresentazioni digitali di grandezze fisiche e unità di misura
- rappresentazioni digitali dell’errore di misura, dell’incertezza e dei modelli
- Rappresentazione digitale dei tipi di scala di misura e dei dati associati
- calcoli con grandezze fisiche
- recupero dell’informazione e rappresentazioni della conoscenza (semantica, ontologie, ecc.)
- Trasformazione digitale nell’infrastruttura di qualità
- La digitalizzazione della metrologia legale e le infrastrutture di qualità
- Metrologia per la valutazione della qualità e la validazione di algoritmi e software
- Certificati digitali di calibrazione, test e ispezione
- Principi e tecnologie per il monitoraggio e la calibrazione remoti
- infrastrutture e tecnologie digitali per confronti interlaboratorio e proficiency testing
- Trasformazione digitale nella tracciabilità
- Rappresentazione digitale della tracciabilità metrologica
- Tracciabilità metrologica in Digital Shadow, modelli digitali e gemelli digitali
- Blockchain per la metrologia
- Tracciabilità metrologica nell’Internet delle cose
- Metrologia per la digitalizzazione e le tecnologie digitali nell’industria e nella scienza
- applicazione dei principi FAIR ai dati di misura (metadati, qualità dei dati, ecc.) e ruolo della metrologia per i dati FAIR
- Processo decisionale nei sistemi di misura digitali autonomi
- infrastrutture per l’applicazione del machine learning e dell’intelligenza artificiale
- Metrologia per l’Industria 4.0
- Reti e sistemi di sensori digitali Metrologia
- Sicurezza informatica e comunicazione di rete
- Metrologia digitale per la produzione additiva
- Realtà aumentata e virtuale nelle applicazioni metrologiche
- Tecnologie digitali quantistiche
- Quantum per la sicurezza informatica
- Blockchain per l’era quantistica
- Intelligenza artificiale per l’informatica quantistica
- Tecnologie quantistiche per misure di precisione e standard
- Nuove tecniche e applicazioni di misurazione quantistica
- Benchmarking per le tecnologie quantistiche
- Standard e tecnologie quantistiche e digitalizzazione
M4DConf_2025_CfP_v3
